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聯(lián)系人: 姜雨柔
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產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱(chēng)/型號
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HAD-SD-600電阻率測試儀/面電阻測試儀 *
電阻率測試儀/面電阻測試儀 * HAD-SD-600型電阻率測試儀用于測量絕緣材料(如塑料薄膜、紙張、玻璃等)上導電涂層的薄片電阻率。HAD-SD-600采用了可靠和精確的4針測量、直觀(guān)顯示測量出的單位電阻率(每平方厘米)。
HHY8-FZ-2010粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀 *
粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀 * HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據能源方面,與其是鋰電池的研究需求,開(kāi)發(fā)的型粉末電阻率測試儀。
HADFM100H粉末電阻率測試儀
粉末電阻率測試儀 HADFM100H參照有關(guān)標準進(jìn)行,用于粉末測量,本儀器將原單片微機的數據處理部分舍去,采用硬件進(jìn)行電阻率的自動(dòng)計算,使儀器的可靠性和穩定度大大加強,更方便于用戶(hù),而且價(jià)格低廉,實(shí)惠。
HA/BANTE950電導率/TDS/鹽度/電阻率
電導率/TDS/鹽度/電阻率 HA/BANTE950型多參數電導率儀適用于研究機構測定液體的電導率,溶解型總固體(TDS),鹽度及電阻率值,測量精度:0.5%。
HAD-SB36液體(固體)體積電阻率測試儀
液體(固體)體積電阻率測試儀 液體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》(等同IEC 60093)和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗方法》(等同IEC 60167)而和的。
HA/DX200GH電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀/電阻率測試儀
電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀/電阻率測試儀 一 測量范圍: 電阻 10-5----105Ω,分辨率 10-8 (配套夾具另配)線(xiàn)材直徑: 1mm—40mm 二 測量誤差: 10-4---105Ω, 0.15% 10-5 Ω , 0.25%
HA/DX200H電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀/電線(xiàn)電纜電阻率測定儀
電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀/電線(xiàn)電纜電阻率測定儀 一 測量范圍: 電阻 10-5----106Ω,分辨率 10-7 (配套夾具另配)線(xiàn)材直徑: 1mm—30mm 二 測量誤差: 10-4---106Ω, 0.15% 10-5 Ω , 0.25%
HA/DX200G電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀器/電線(xiàn)電纜電阻率儀
電線(xiàn)電纜電阻率檢測儀器/電線(xiàn)電纜電阻率儀 一 測量范圍: 電阻 10-5----104Ω,分辨率 10-8 (配套夾具另配)線(xiàn)材直徑: 1mm—40mm 二 測量誤差: 10-4---105Ω, 0.15% 10-5 Ω 0.25%
GSZ-RTS-2四探針測試儀(便攜式)/四探針電阻率測試儀
四探針測試儀(便攜式)/四探針電阻率測試儀 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
HAD-M-2數字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀
數字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀 HAD-M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱(chēng)方塊電阻)。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡(jiǎn)稱(chēng)方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量。
HAD-TA-902炭素材料電阻率測試 電阻率測試
炭素材料電阻率測試 電阻率測試 HAD-TA-902型炭素材料電阻率測試儀是測量超低值電阻的儀器,特別適用于測量高功率、超高功率石墨的電阻率值。
HAD-HGTD203B體積電阻率測定儀/體積電阻率檢測儀
體積電阻率測定儀/體積電阻率檢測儀 HAD-HGTD203、HAD-HGTD203B體積電阻率測定儀是我公司新近推出的用于測定絕緣油及抗燃油等液體介質(zhì)體積電阻率的全新型產(chǎn)品,適用于國家標準:DL421-91。本產(chǎn)品充分吸取本公司及原有同類(lèi)產(chǎn)品所具有的優(yōu)點(diǎn),并采用了本公司*,電路及程序均采用了上現正在廣泛采用的可靠的方法及原則。
HASB40B數字固體體積電阻率及表面電阻率測試儀/
數字固體體積電阻率及表面電阻率測試儀/ HASB40B固體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》(等同IEC 60093)和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗方法》(等同IEC 60167)而和的。
HAD-JXNR-1非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸測試儀
非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸測試儀 1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率 2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印 4.軟件界面直觀(guān)友好
HAD-JXNR非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀
非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率 2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印
HAD-SB121數字式固體體積電阻率及表面電阻率測量?jì)x
數字式固體體積電阻率及表面電阻率測量?jì)x 本儀器既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國的大規模集成電路以及我公司,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2 位數字直接顯示電阻的高阻計和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內測量范圍Z寬,準確度Z高的數字超高阻測量?jì)x。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。
HAD-ETCR3000B接地電阻/土壤電阻率測試儀
接地電阻/土壤電阻率測試儀 ETCR3000B接地電阻/土壤電阻率測試儀專(zhuān)為現場(chǎng)測量接地電阻、土壤電阻率、接地電壓、交流電壓而精心的,采用數字及微處理,4線(xiàn)法、3線(xiàn)法和簡(jiǎn)易2線(xiàn)法測量接地電阻,導入FFT(快速傅立葉變換)、AFC(自動(dòng)頻率控制),具有的抗干擾能力和環(huán)境適應能力,重復測試*強,確保長(cháng)年測量的高精度、高穩定性和高可靠性。
HAD-SKD-07體積電阻率自動(dòng)測定儀
體積電阻率自動(dòng)測定儀 SKD-06型絕緣油體積電阻率自動(dòng)測定儀是根據國家有關(guān)標準DL/T421-1991《絕緣油體積電阻率測定法》研制的新一代體積電阻率測定儀器。該儀器采用帶觸摸屏的大屏幕液晶顯示器,中文菜單方式、實(shí)現人機對話(huà),每次可進(jìn)行三個(gè)樣品的自動(dòng)測試。自動(dòng)打印試驗結果。
HAD-FT-302電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀 電阻率測試儀
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀 電阻率測試儀 HAD-FT-302電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀是根據國標GB11017-89所規定的測試方法和指標而的,用來(lái)測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率,采用四端子電流—電壓降壓法原理,能夠有效地排除測試中產(chǎn)生的接觸電阻和引線(xiàn)電阻的影響,通過(guò)的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。
HAD-76652-04油漆電阻率測量裝置/電導率儀
油漆電阻率測量裝置/電導率儀 利用一個(gè)主機儀表來(lái)實(shí)現靜電噴涂多個(gè)性能參數的測量??杀挥脕?lái)測量電導率、油漆電阻、短路電流、高壓。主機儀表可配置相應的探頭來(lái)實(shí)現不同的參數測量功能,也可以實(shí)現所有參數的測量功能。
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