避雷器放電計數器檢測儀 放電計數器檢測儀 型號：WHBY-FCZ-II

塞曼效應實(shí)驗儀(電磁型)       型號；HAD-FD-ZM-B

1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的一條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英國物理學(xué)家法拉第1845年發(fā)現磁致旋光效應，克爾1876年發(fā)現磁光克爾效應之后，發(fā)現的又一個(gè)磁光效應。 塞曼效應不僅證實(shí)了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發(fā)現電子提供了證據。還證實(shí)了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這一發(fā)現共同獲得了諾貝爾物理學(xué)獎。直到今日，塞曼效應仍舊是研究原子能級結構的重要方法。

　　HAD-FD-FZ-I型塞曼效應實(shí)驗儀具有磁場(chǎng)穩定，測量方便，實(shí)驗分裂環(huán)清晰等特點(diǎn)，適用于高等院校近代物理實(shí)驗和性實(shí)驗。

　　應用該實(shí)驗儀主要完成以下實(shí)驗：

　　1．掌握觀(guān)測塞曼效應的實(shí)驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學(xué)概念的理解。

　　2．觀(guān)察汞原子 546.1nm譜線(xiàn)的分裂現象以及它們偏振狀態(tài)，由塞曼裂距計算電子荷質(zhì)比。

　　3．學(xué)習法布里-珀羅標準具的調節方法

　　4．學(xué)習CCD器件在光譜測量中的應用。（其中CCD器件、采集系統及實(shí)驗分析軟件選購）

　　儀器主要參數：

　　1. 電磁鐵 大磁感應強度 1.28T 勵磁電源 大輸出電流 5A 大輸出電壓 30V

　　2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　4．干涉濾光片 中心波長(cháng) 546.1nm

　　5. 讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm

法拉第效應塞曼效應綜合實(shí)驗儀         型號；HAD-FD-FZ-C

1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了一種現象，當一束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加一個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)一個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉第效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的一條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉第效應和塞 曼 效應是19世紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之一，它們有力的支持了光的電磁理論。

　　本公司的HAD- FD-FZ-C型法拉第效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是在I型的基礎上改進(jìn)而成，將原來(lái)一維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣完成法拉第效應時(shí)調節更加準確方便，并且激光輸出功率更加穩定。電磁鐵中心磁場(chǎng)強度也比以前有了顯著(zhù)提高，大可以達到1.4T。測角儀器將原來(lái)的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線(xiàn)位移），這樣讀數更加方便。該實(shí)驗儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。

　　儀器主要參數：

　　1. 半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出功率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

　　2. 電磁鐵 大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關(guān)）

　　3. 勵磁電源 大輸出電流 5A 大輸出電壓 30V

　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　7．法拉第效應 小測角約 2分

法拉第－塞曼效應綜合實(shí)驗儀          型號；HAD-FD-FZ-I

1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了一種現象，當一束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加一個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)一個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉第效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的一條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉第效應和塞 曼 效應是19世紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之一，它們有力的支持了光的電磁理論，隨著(zhù)現代的發(fā)展，這兩種經(jīng)典的實(shí)驗效應被廣泛應用于激光、磁光及凝聚 態(tài)領(lǐng)域 。

　　本公司的 HAD-FD-FZ-I型法拉第效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是將兩種實(shí)驗效應合理地整合成一臺、多測量實(shí)驗教學(xué)儀器。應用該實(shí)驗儀可以完成法拉第效應和塞曼效應的轉換測量，學(xué)習磁光作用的特性。該實(shí)驗儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。

　　儀器主要參數：

　　1.氦氖激光器 波長(cháng) 632.8nm 輸出功率 >1.5mW 光斑直徑 2.6mm

　　2.電磁鐵 大磁感應強度 1.28T

　　3.勵磁電源 大輸出電流 5A 大輸出電壓 30V

　　4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5.法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6.干涉濾光片 中心波長(cháng) 546.1nm

　　7.讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　8.法拉第效應 小測角 2分

磁光效應綜合實(shí)驗儀（法拉第效應和磁光調制）         型號；HAD-FD-MOC-A

1945年，法拉第（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了一種現象，當一束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加一個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)一個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉第效應。

　　法拉第效應有許多應用，它可以作為物質(zhì)研究的手段，可以用來(lái)測量載流子的有效質(zhì)量和提供能帶結構的知識，還可以用來(lái)測量電路中的電流和磁場(chǎng)，特別是在激光中，利用法拉第效應的特性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調制器等。

　HAD-FD-MOC-A型磁光效應綜合實(shí)驗儀，是一臺綜合研究磁光效應的實(shí)驗儀器，通過(guò)該實(shí)驗儀可以學(xué)習法拉第效應的原理，并通過(guò)偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過(guò)磁光調制的方法確定消光位置，從而提高測量精度，這種由淺入深的測量方法使學(xué)生理解測量的科學(xué)方法。并通過(guò)調制的方法可以精確測量不同磁光樣品的光學(xué)特性和特征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形，觀(guān)測磁光調制現象，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列特性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質(zhì)進(jìn)行實(shí)驗；2）具有大幅度的交流調制信號和直流勵磁，且穩流勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，精確直觀(guān)；4）調制光接收靈敏度高，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶游標測角機構，分辨率高。

　　儀器主要參數：

　　1．磁光介質(zhì) 法拉第旋光玻璃

　　2．激光光源 半導體激光器（波長(cháng)650nm）輸出功率 <2.5mW

　　3．直流勵磁電流 0—5A(連續可調，數字顯示)

　　4．調制信號 頻率500Hz(正弦波)

　　5．起偏器角度分辨率 1度

　　6．檢偏分辨率 約3分