鹽密測試儀 鹽密測試儀 鹽密檢測儀 型號:WHBY-WH-2002 用途: 本儀器是電力系統污穢測量專(zhuān)業(yè)設備,能測量電導率,溫度和等值附鹽密度。 主要特點(diǎn): ●自動(dòng)進(jìn)行校正和溫度補償 ●自動(dòng)識別電導電極 ●自動(dòng)進(jìn)位及轉換測量單位 ●測量范圍大 參數: ●測量范圍 電極常數為1 電導率 0.1μs/cm~20ms/cm 電極常數為10 電導率2ms/cm~200ms/cm 測 溫 范 圍 溫 度 0℃~100℃ ●測量誤差 電導率1%() 溫度 ±0.1℃ 等值附鹽密度1%() ●外形尺寸(mm):205×120×35 ●重量:0.6kg 材料磁性綜合測量?jì)x 型號;HAD-FD-VSMG-A 表面磁光克爾效應研究超薄膜磁性質(zhì),研究磁光存儲的特性,開(kāi)發(fā)新型的高密度磁光存儲介質(zhì)??捎糜诩{米、巨磁阻、磁電子器件等新磁性材料的研究。將具有超大磁致伸縮效應的鐵磁材料晶體研制成新的合金材料,具有很高的居里溫度特點(diǎn) , 引發(fā)傳統電子信息系統、傳感系統、振動(dòng)系統等領(lǐng)域產(chǎn)生變革。故對材料磁致伸縮性的研究也是材料研究領(lǐng)域的又一個(gè)重點(diǎn)。振動(dòng)樣品磁強計應用于測量鐵磁、反鐵磁、抗磁等材料的磁特性,包括對稀土磁材料、鐵氧體材料、超導材料及生物蛋白質(zhì)的磁性研究。古埃法磁天平用于磁學(xué)和磁化學(xué)研究,可測量順磁和逆磁磁化率,磁流體的磁矩和磁化特性。 HAD-FD-SMOKE-B 型表面磁光克爾效應實(shí)驗系統為基礎,將表面磁光克爾效應、磁致伸縮效應、振動(dòng)樣品磁強計和磁天平四種測試手段融合在一個(gè)測量系統當中,共用同一臺電磁鐵,整合了信號處理系統。并且在磁致伸縮效應的測量上使用了的方式使得操作更為方便,靈敏度更高。 儀器主要參數: • 實(shí)驗平臺 光學(xué)減振組合式實(shí)驗臺,臺面尺寸 1600 × 1200mm , M6 螺孔,孔距 25 × 25mm • 電磁鐵 磁極間隙 0-50mm 連續可調 • 恒流電源 0-7.5A 連續可調 • 半導體激光器 波長(cháng) 650nm ,輸出功率 2mW • 位移傳感器測量精度 0.1um • 磁化強度測量精度 10 -6 Am 2 鐵磁材料居里溫度測試實(shí)驗儀(計算機采集) 型號;HAD-FD-FMCT-A 磁性材料在電力、通訊、電子儀器、汽車(chē)、計算機和信息存儲等領(lǐng)域有著(zhù)十分廣泛的應用,近年來(lái)已成為促進(jìn)高新發(fā)展和當代文明進(jìn)步不可替代的材料,因此在大學(xué)物理實(shí)驗開(kāi)設關(guān)于磁性材料的基本性質(zhì)的研究顯得尤為重要。居里溫度是表征磁性材料基本特性的物理量.反映了磁性材料由鐵磁性轉變?yōu)轫槾判缘南嘧儨囟龋?/p> 本實(shí)驗儀器根據鐵磁物質(zhì)磁矩隨溫度變化的特性,采用電橋法測量鐵磁物質(zhì)自發(fā)磁化消失時(shí)的溫度,采用鉑電阻溫度傳感器,記錄溫度,數字電壓表讀取電壓,畫(huà)出 T~V曲線(xiàn),并從中定出居里溫度T C ,通過(guò)對軟磁鐵氧體材料居里溫度的測量,加深對這一磁性材料基本特性的理解,并且可以通過(guò)計算機采集數據,可以自動(dòng)測量出溫度電壓曲線(xiàn),這樣自動(dòng)和手動(dòng)相結合的方式,既鍛煉了學(xué)生的動(dòng)手能力,又培養了運用的測量方法完成經(jīng)典實(shí)驗的能力。 該儀器具有系統結構牢固,性能穩定可靠等優(yōu)點(diǎn),適合于大中專(zhuān)院校近代物理實(shí)驗以及研究性性實(shí)驗 儀器主要參數: 1.信號發(fā)生器 頻率500Hz~1500Hz,連續可調 幅度2V~10V(峰峰值),可調 2.數字頻率計 分辨率1Hz,量程0~9999Hz 3.交流電壓表 分辨率0.001V,量程0~1.999V 4.數字溫度計 量程0 oC~150oC,測溫分辨率0.1 oC 5.鐵磁樣品 居里溫度分別為 50℃±2 ℃和90℃±2℃ 表面磁光克爾效應實(shí)驗系統 型號;HAD-FD-SMOKE-B FD-SMOKE-B型表面磁光克爾效應實(shí)驗系統是在A(yíng)型SMOKE實(shí)驗系統的基礎上改進(jìn)提高而成,儀器的整體性能和實(shí)驗穩定度均得到了明顯的改善。 首先,實(shí)驗平臺改掉了光學(xué)鐵板的形式,采用硬鋁黑色陽(yáng)極氧化的方式,這樣大大提高了光學(xué)平臺的可移動(dòng)性和光學(xué)性能,臺面采用 M6固定螺孔的方式來(lái)連接各個(gè)光學(xué)元件,這樣整個(gè)光學(xué)調節完成后可以減少不的移動(dòng)和改變,對后面實(shí)驗操作帶來(lái)了方便。 其次,儀器測試靈敏度提高了一倍,這樣終的測試信號整體穩定性得到了大大改善,這樣可以進(jìn)一步研究單原子層厚度的磁性薄膜的性質(zhì),在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方面的研究中發(fā)揮更重要的作用。 再有,環(huán)形電磁鐵進(jìn)一步改進(jìn),在不改變中心大磁感應強度的情況下,縮小磁鐵結構,這樣更加有利于與超高真空系統連接,對磁性薄膜和超薄膜進(jìn)行原位測量。 儀器主要參數: 1.實(shí)驗平臺 光學(xué)減振組合式實(shí)驗臺,臺面尺寸 1200×900mm,M6螺孔,孔距25×25mm, 2.高穩定度半導體激光器,波長(cháng) 650nm,輸出功率 2mW左右,小光斑直徑1mm。 3.偏振棱鏡 通光孔徑 8mm,消光比 10 -5 ,主透比90%。 4.環(huán)形電磁鐵 中心大磁感應強度約 2800Gs,磁間隙30mm 5.恒流電源 大電壓38V,大輸出電流 10A。 
表面磁光克爾效應實(shí)驗系統 型號;HAD-FD-SMOKE-A 在 1845年,Michael Faraday首先發(fā)現了磁光效應,他發(fā)現當外加磁場(chǎng)加在玻璃樣品上時(shí),透射光的偏振面將發(fā)生旋轉的效應,隨后他在外加磁場(chǎng)之金屬表面上做光反射的實(shí)驗,但由于他所謂的表面并不夠平整,因而實(shí)驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀(guān)察偏振化光從拋光過(guò)的電磁鐵磁極反射出來(lái)時(shí),發(fā)現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學(xué)者進(jìn)行鐵超薄膜磊晶成長(cháng)在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實(shí)驗,成功地得到一原子層厚度磁性物質(zhì)之磁滯回線(xiàn),并且提出了以SMOKE來(lái)作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫(xiě),用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學(xué)上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達一原子層厚度,且儀器配置合于超高真空系統之工作,因而成為表面磁學(xué)的重要研究方法。 它在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線(xiàn),從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外,該系統可以和超高真空系統相連,對磁性薄膜和超薄膜進(jìn)行原位測量。 儀器主要參數: 1.半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出功率 2mW 2.偏振棱鏡 格蘭-湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 -5 主透射比90% 3.電磁磁鐵 中心大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm 4.恒流電源 大電壓 38V 大輸出電流 10A 磁塞曼效應實(shí)驗儀 型號;HAD-FD-ZM-A 在大專(zhuān)院校的實(shí)驗教學(xué)中,塞曼效應是經(jīng)典的近代物理實(shí)驗內容,通過(guò)該實(shí)驗現象的觀(guān)察,可以了解磁場(chǎng)對光產(chǎn)生的影響,認識發(fā)光原子內部的運動(dòng)狀態(tài),加深對原子磁矩和空間取向量子化的理解,并精確測量電子的荷質(zhì)比。 HAD-FD-ZM-A型磁塞曼效應實(shí)驗儀與同類(lèi)儀器相比具有以下特點(diǎn): 1.磁場(chǎng)由磁鐵提供,具有穩定性好,中心磁感應強度高的特點(diǎn);并且通過(guò)機械調節改變磁頭間距,調節中心的磁感應強度。 2.實(shí)驗儀的磁鐵和光學(xué)導軌固定連接,導軌由鋁合金型材制成,表面陽(yáng)極氧化,不生銹,并且導軌上配有標尺,這樣實(shí)驗調節方便,重復性好。 3.實(shí)驗儀配有高精度特斯拉計,可以精確測定中心磁感應強度。 HAD-FD-ZM-A型磁塞曼效應實(shí)驗儀主要由實(shí)驗儀主機(包括特斯拉計、汞燈電源)、磁鐵、筆形汞燈、會(huì )聚透鏡、干涉濾光片、F-P標準具、偏振片、成像透鏡、讀數顯微鏡組成。選配件:高象素CCD采集系統、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應實(shí)驗分析軟件。 儀器主要參數: 1.磁鐵中心磁感強度 1360mT 2.標準具通光口徑 40mm 3.標準具空氣隙間隔 2mm 4.濾光片中心波長(cháng) 546.1nm 5.讀數顯微鏡精度 0.01mm 6.特斯拉計分辨率 1mT 7.CCD有效象素(選配)752×582 |