閃頻測速儀/便攜式測速儀 型號：XB-DT2239B

采用微型計算機(CPU)、光電。
抗干擾等實(shí)現非接觸轉速
測量，以及檢測運動(dòng)物體的狀態(tài)和表面
缺損。
超大屏幕液晶顯示帶背光
數字控制調整閃頻頻率
電源消耗低
測量范圍：60~19,999RPM
粗調/細調幅度：
<1,000RPM 粗調 ±10RPM
細調 ±0.1RPM
≥1,000RPM 粗調 ±100RPM
細調 ±1RPM
準確度：±0.05%
分辨率：<1,000RPM：0.1RPM
≥1,000RPM：1RPM
電源：4x1.5V AA電池

半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：HAD-HHY8-BD-86A

HAD-HHY8-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠(chǎng)推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠(chǎng)，材料廠(chǎng)用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經(jīng)過(guò)對用戶(hù)、半導體廠(chǎng)測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破，它更適合于半導體器材廠(chǎng)工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩定性好，輸入阻抗高，使用方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)。

   儀器主要指標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長(cháng)度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二極管（LED）數字顯示

                  0---1999具有極性、過(guò)載、小數點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離功能

（1）       直流電流：0—100mA連續可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM指標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm

一  產(chǎn)品說(shuō)明

電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。

三、 產(chǎn)品特點(diǎn)

1 儀器采用 220V 交流電源供電。

2 同時(shí)檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。

3 擁有較高的電阻率測試分辨率，小可到 0.001 歐姆.厘米。

4 能精確的分辨電阻率在 0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。

5 獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠(chǎng)大規?？焖龠x料。

6 適中的體積和便攜性。

7 簡(jiǎn)單的操作，快速的測試。

8 低廉的價(jià)格，很高的性?xún)r(jià)比。

四、 參數指標

1 供電電源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主機尺寸 155×120×50mm

2 電阻率測試范圍 0.001~50 歐姆.厘米

3 電阻率測試精度 ±5%±2LSB

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：HAD-HHY8-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)標準的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5Ω cm ，直接采用數字顯示。儀器的可靠性和穩定性大大增強，更方便于用戶(hù)， 而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測量。 

　　適用于有機、無(wú)機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有高精度加壓系統, 高度測量的測試臺和儀器組成.

　　儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動(dòng)操作、壓力平穩。本儀器具有測量精度高，穩定性好，重復性好，使用方便等特點(diǎn)， 并有自校功能。

　　本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統所帶來(lái)的誤差， 克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實(shí)、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

　　本儀器適用于碳素廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。

主要指標：

1. 測量范圍：

· 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω

· 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm

測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）

2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
測量精度: ±（0.3% 讀數 + 2 字）

3. 測量電流：0 - 100 mA 連續可調，
電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網(wǎng)）納米粉末

5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm

6. 試樣高度：16mm ± 0.5mm 
測量誤差：±0.1mm

7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
壓力量程：0 - 100 kg 可調

8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動(dòng)顯示單位和小數點(diǎn)

9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗

10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm

11. 備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選

1.電氣箱一臺  FZ-2006A（主機）

2.測試架一臺  FZ-2010

3.使用說(shuō)明書(shū)一份

4.電源線(xiàn)二根 

5.合格證一份

6.四端子測試線(xiàn)一根

7.電源線(xiàn)二根

微型高速粉碎機 粉碎機 粉碎機 型號：HAD-HB-WWFS-Ⅱ

該機可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質(zhì)、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化

、地質(zhì)、醫藥衛生、農業(yè)、工業(yè)的科研單位和化驗制樣室制取少量試樣用。

二、主要指標

轉子轉速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎時(shí)間：3-5秒

電源：220V 50HZ

三、該產(chǎn)品特點(diǎn)

1、轉速高：≥10000轉/分

2、效率高：50g物料僅需要3-5秒便可完成粉碎，即簡(jiǎn)便又快速。

3、密封性好；工作中沒(méi)有被粉碎的物料泄漏，使工作環(huán)境保持清潔。

4、性能穩定：可連續工作，使用壽命長(cháng)。