方塊電阻測試儀/電阻測試儀 型號：GSZ-ST-21 方塊電阻測試儀是一種依照類(lèi)似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專(zhuān)門(mén)測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點(diǎn)。 | ◆ 特點(diǎn)： | | | 1 | 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗； | 2 | 以大屏幕LCD顯示讀數，直觀(guān)清晰； | 3 | 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示； | 4 | 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； | 5 | 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜 | 6 | 探頭帶抗靜電模塊 |
| | | | ◆ 指標： | | | 測量范圍 | 按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□； | 恒流源 | 測量過(guò)程誤差：≤±0.8% | 模數轉換器 | 量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動(dòng)顯示；小數點(diǎn)同步顯示； | 測量不確定度 | 在整個(gè)量程范圍內，測量不確定度≤5% | 四探針探頭規格 | 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ | 電源 | 9V疊層電池1節 |
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