方塊電阻測試儀/電阻測試儀 型號:GSZ-SRM-232-100 GSZ-SRM-232型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專(zhuān)門(mén)測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 GSZ-SRM-232型方塊電阻測試儀根據不同的測量范圍分成以下四種型號:GSZ-SRM-232-10、GSZ-SRM-232-100、GSZ-SRM-232-1000、GSZ-SRM-232-2000; | | ◆ 特點(diǎn): | | 1 | 輕便手持式 | 2 | 127個(gè)數據測試點(diǎn)保存 | 3 | 通過(guò)RS-232與電腦通訊 |
| | ◆ 指標: | | GSZ-SRM-232-10 | 測量范圍: 0.000~9.999(Ω/□) 分辨率:0.004(Ω/□) | GSZ-SRM-232-100 | 測量范圍:00.00~95.00(Ω/□) 分辨率:0.04(Ω/□) | GSZ-SRM-232-1000 | 測量范圍0~1000(Ω/□) 分辨率:0.4(Ω/□) | GSZ-SRM-232-2000 | 測量范圍:0~2000(Ω/□) 分辨率:0.8(Ω/□) |
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