數字式四探針測試儀  四探針電阻率測試儀 型號：ST2258C

一、 結構特征

二、概述

      ST2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量?jì)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā凡⒖济绹?nbsp;A.S.T.M 標準。 
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類(lèi)功能，zui大分類(lèi)10類(lèi)。 
      探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類(lèi)半導體、金屬、導電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。 
      測試臺選配：一般四探針?lè )y試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針?lè )y試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測試臺的特點(diǎn)與選型參考》 
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、化程度高、結構緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。 
儀器適用于半導體材料廠(chǎng)器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對導體、半導體、類(lèi)半導體材料的導電性能的測試。 

三、基本參數

1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個(gè)數量級） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長(cháng)(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級 

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長(cháng)）×220 mm（寬）×95mm（高）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg 

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