非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 型號:HAD-JXNR 一、產(chǎn)品特點(diǎn) 1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率 2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印 4.軟件界面直觀(guān)友好 5.樣片校準快速、方便 二、推薦工作條件 1. 溫度:23±2℃ 2. 濕度:60%~70% 3. 無(wú)強光照、無(wú)強磁場(chǎng)、不與高頻設備鄰近 三、參數指標 1.整機尺寸:340mm×260mm×150mm 2.電阻率量程:0.1~50Ω﹡㎝ 3.誤差范圍:±5% 4.硅片厚度:適合150-600um厚度 北京恒奧德科技有限公司 電 話(huà):/51666869/ 傳 真: 手 機:/ :2820129828/1575574360/1321298635/1445496132 網(wǎng) 址:www.hengaodebj。。com www.54pc。。com/netshow/ZT11690 www.bjhadkj。。com www.hadkj88。。cn.alibaba.com 地 址:北京北洼路90號院16號樓317室(北京市地質(zhì)工程勘察院院內 |